在地質勘探、礦石、土壤檢測領域,準確識別和分析礦石中的金屬元素至關重要。它不僅有助于確定礦產資源的價值,還能為開采決策提供關鍵依據。日立手持光譜儀憑借其先進的技術和優異的性能,成為地質勘探、礦石、土壤檢測領域工作者的得力助手。
日立手持光譜儀基于 X 射線熒光(XRF)光譜分析技術。其工作原理是:儀器的射線管發出 X 射線照射樣品,使樣品原子中的電子逃逸,外層電子躍入內層空穴,發射出具有特定能量的特征 X 熒光。探測器捕捉這些特征 X 熒光,并將其能量轉化為電子脈沖信號,經過放大、傳輸和運算,最終轉化為元素含量值。不同元素產生的特征 X 射線能量不同,通過分析這些能量,可進行定性分析;計算特征 X 射線的數量,則可測定相關元素的含量,實現定量分析。這種技術具快速、準確、無損的特點,為地質勘探中的金屬元素檢測提供了**的解決方案。
鋁(Al)、硅(Si)、磷(P)、硫(S)、氯(Cl) :日立手持光譜儀能快速檢測出這些元素,如在鋁土礦勘探中,可快速確定鋁的含量,以及伴生的硅、磷等元素的量,從而判斷礦石的品質和利用價值。
鉀(K)、鈣(Ca)、鈦(Ti)、釩(V)、鉻(Cr)、錳(Mn)、鐵(Fe)、鈷(Co)、鎳(Ni)、銅(Cu)、鋅(Zn) :這些元素在多種礦石中廣泛存在,例如在銅礦石中,可同時檢測出銅以及伴生的鐵、鋅等元素的含量,為礦石的分選和冶煉提供依據。
鋯(Zr)、Nb(鈮)、鉬(Mo)、鈀(Pd)、銀(Ag)、鎘(Cd)、銦(In)、錫(Sn)、銻(Sb)、鎢(W)、錸(Re)、銥(Ir)、鉑(Pt)、金(Au)、汞(Hg)、鉛(Pb)、鉍(Bi)、釷(Th)、鈾(U)以及稀土元素鈧(Sc)、釔(Y)等:對于這些金屬元素,日立手持光譜儀也能有效檢測,像在金礦勘探中,可直接檢測金的含量,還能分析伴生的銀、銅等元素,幫助更**地了解礦體的成分和價值。
日立手持光譜儀可快速完成對金屬、礦石等材料的成分分析,極大地提高了地質勘探的工作效率。在野外勘探時,勘探人員能夠迅速獲取礦石樣品的元素信息,及時調整勘探方向和策略。
檢測精度高達 ppm級,其配備的硅漂移探測器(SDD)大幅提升分辨率,可準確識別各種金屬元素及其含量,為地質勘探提供可靠的數據,避免因檢測誤差導致的誤判。
對被測樣品完全無損,無需對礦石進行復雜的制樣、取樣過程,在保持樣品完整性的同時,能夠直接獲得準確的檢測數據,這對于珍貴的礦石標本或需要保留原始狀態的樣品檢測尤為重要。
在某大型銅鋅礦勘探項目中,勘探團隊使用日立手持光譜儀對采集的大量礦石樣品進行現場檢測。通過快速分析礦石中的銅、鋅等元素含量,迅速確定了礦脈的大致走向和富集區域。與傳統勘探方法相比,大大縮短了勘探周期,節約了大量的人力、物力和時間成本。最終,成功發現了一處高品位的銅鋅礦床,為企業帶來了巨大的經濟效益。
在地質勘探工作中,日立手持光譜儀可檢測的豐富金屬元素為勘探人員提供了關鍵信息。其快速、準確、便攜、無損的檢測優勢,使其成為地質勘探領域不可或缺的重要工具。隨著技術的不斷發展和創新,相信日立手持光譜儀將在地質勘探及更多領域發揮更大的作用,助力資源勘探和開發工作邁向新的高度。
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我司主營產品有:
1.日立X-MET8000系列手持式熒光光譜儀,應用于:QA/QC檢測、PMI、廢舊金屬回收、機械工程、金屬生產/鑄造、三元催化、貴金屬、環境監測、采礦與勘探、鍍層測厚、金屬表面處理/電鍍/涂層分析、合規性篩選、考古;
2.日立Vulcan系列手持激光誘導擊穿光譜儀,應用于:QA/QC檢測、廢舊金屬回收、PMI現場檢測;
3.日立OES臺式和移動式直讀光譜儀,應用于:冶金冶煉、QA/QC檢測、PMI現場檢測;
4.日立臺式XRF光譜儀,應用于:鍍層檢測,元素檢測。
公司參照國際上分析儀器儀表公司的經驗,建立了適合中國市場經濟環境的運作體系,堅持“專業化公司”的經營方向,以適應市場對于高技術領域日趨強烈的需求。
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