高性能金屬分析
上市時間：2019年12月
Paschen-Runge和Czerny-Turner相結合的“蝶形”光學結構； 中壓力氬氣凈化系統，提升長期穩定性并減少維護；
波長范圍119-761nm，
可測量金屬材料中的O、N、H等氣體元素；
采用量子效率更高的CMOS；
全新設計的光源，精度更高，功耗更低。
新型OE750是一款突破性的新型OES金屬分析儀。其涵蓋了金屬元素的全部光譜，并具有同類產品中低的檢出限。
由于行業法規日益嚴格，供應鏈變得復雜以及更多地使用廢料作為基礎材料，因此鑄造廠和金屬制造商將雜質和痕量元素控制在ppm范圍內。在過去，OES對許多企業而言是遙不可及。日立分析儀器推出的新型OE750可改變這一現狀。
這款直讀光譜儀可用于分析所有主要合金元素，并識別金屬中含量低的雜質、痕量元素和處理元素，如鋼中的氮。 OE750的測量速度快、可靠性高且運營成本低，可進行高性價比的日常分析和質量控制，其性能可與更大、更貴的光譜儀媲美。
為什么選擇 OE750
1. 值得信賴的結果 在同類產品中控制雜質和痕量元素的光學分辨 率。
2. L綜合成本低 負擔得起的購買和運行成本，提供更貴分析儀 器所具備的性能。
3. 保持運行不間斷 設計可靠，維護和標準化要求低。
4. 支持連續生產 分析速度快，啟動時間短，可快速反饋熔液質 量。
只需一臺合理的OE750設備，就能提供快速的金屬質量分析，滿足您所有的需求。
售后服務
免費上門安裝：是
保修期：1年
是否可延長保修期：否
保內維修承諾：快速及時
報修承諾：24h內到達現場維修
免費培訓：技術培訓
現場技術咨詢：有
新型OE750是一款突破性的新型OES金屬分析儀。其涵蓋了金屬元素的全部光譜，并具有同類產品中低的檢出限。
由于行業法規日益嚴格，供應鏈變得復雜以及更多地使用廢料作為基礎材料，因此鑄造廠和金屬制造商將雜質和痕量元素控制在低ppm范圍內。在過去，OES對許多企業而言是遙不可及。日立分析儀器推出的新型OE750可改變這一現狀。
這款直讀光譜儀可用于分析所有主要合金元素，并識別金屬中含量低的雜質、痕量元素和處理元素，如鋼中的氮。 OE750的測量速度快、可靠性高且運營成本低，可進行高性價比的日常分析和質量控制，其性能可與更大、更貴的光譜儀媲美。
根據應用的不同，有關更多詳細信息，請索取我們的應用報告。
備注儀器彩頁一：日立實驗室臺式光譜儀OE720/750
